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Z掃描測試系統-ZTS100

產品簡介

Z掃描測試系統-ZTS100抖動消除:參比雙通道信號同時采集;功率檢測范圍:50 nW-40 mW。

更新時間:2024-12-04
廠商性質:生產廠家
訪問量:1253
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Z掃描測試系統-ZTS100主要技術指標:

精密光學位移臺

速度

30mm/s

最小分辨率

0.1μm

重復定位精度

<2μm

功率探測器


測試波長

350-1700nm

功率檢測范圍

50nW-40mW

抖動消除

參比雙通道信號同時采集









Z掃描測試系統-ZTS100應用實例:

實驗條件

樣品名稱

單晶硅

激發光波長

1030nm

探測光波長

1030nm

Z掃描測試系統-ZTS100

大連創銳光譜科技有限公司基于自主創新的時間分辨光譜技術,致力于推動光譜技術在科研和工業領域的深入應用。在科研儀器領域,創銳光譜由一線專家帶隊,是目前國內極少具備瞬態光譜獨立研發-生產-應用完整能力體系的團隊。創銳光譜以時間分辨光譜核心技術,超快瞬態吸收光譜系統為核心產品,打破進口壟斷格局。主要產品包括瞬態吸收光譜系統、共聚焦熒光成像系統、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業半導體檢測領域,公司以光譜技術創新為核心立足點,已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局。

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